DIN EN 60747-5-3-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电器件.测量方法(IEC60747-5-3:1997+A1:2002);德文版本EN60747-5-3:2001+A1:2002

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【英文标准名称】:Discretesemiconductordevicesandintegratedcircuits-Part5-3:Optoelectronicdevices;Measuringmethods(IEC60747-5-3:1997+A1:2002);GermanversionEN60747-5-3:2001+A1:2002
【原文标准名称】:半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电器件.测量方法(IEC60747-5-3:1997+A1:2002);德文版本EN60747-5-3:2001+A1:2002
【标准号】:DINEN60747-5-3-2003
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2003-01-01
【实施或试行日期】:2003-01-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:光耦合器;辐射强度;半导体器件;二极管;显示装置;光电二极管;分立器件;绝缘测试;光电子器件;频带宽度;绝缘电阻;电子设备及元件;发光强度;试验;暗电流;测量技术;电性质和电现象;集成电路
【英文主题词】:Bandwidths;Darkcurrent;Diodes;Discretedevices;Displaydevices;Electricalpropertiesandphenomena;Electronicequipmentandcomponents;Insulatingresistance;Insulationtest;Integratedcircuits;Luminousintensity;Measuringtechniques;Optoelectronicdevices;Photocouplers;Photodiodes;Radiantintensity;Semiconductordevices;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:45P.;A4
【正文语种】:德语